従来のF-ICT検査機は、プレス型ICTのような検査治具こそ不要でも、検査データの作成に多くの時間と知識を要し、検査そのものにも時間がかかりました。そのため、すべての製品を検査対象にすることは容易ではありませんでした。
APT-2600FD は、テストプログラム作成支援ソフトを搭載し、ODB++ をはじめとするCADデータから検査データを自動生成。誰でも短時間で検査データを作成でき、検査スピードも従来比 約2倍に向上しています。CADデータをご提供いただけるすべての基板へF-ICT検査を広げ、より高い品質保持体制を目指します。
タカヤ株式会社製 フライングプローブテスタ APT-2600FD（F-ICT）
| プローブ数 | 上面4本 ／ 下面2本 |
|---|---|
| 検査ステップ数 | 最大 350,000 ステップ |
| 測定スピード | 0.02秒/step ～ |
| 最小コンタクトパッドサイズ | 50μm |
| プローブ位置決め繰り返し精度 | ±25μm |
| 最小プロービングピッチ | 0.15mm |
| 検査可能サイズ | L540×D483mm（3mm厚まで拡張） |
| 使用電源／エアー | AC200～240V（単相）50/60Hz・最大4.0kVA ／ エアー0.6～0.8MPa（ドライエアー） |
| 寸法・重量 | W1400×D1500×H1450mm・1450kg |
既存のフライングプローブ検査機と比べ、APT-2600FD で新たに可能になった検査です。
従来の4軸傾斜プローブに加え、2軸垂直プローブを搭載。傾斜プローブではアクセスが難しかった背の高い部品間のポイントや、コネクタのピンへのコンタクトが可能になり、検査領域が拡大しました。
基板上のLEDを点灯させ、専用センサーで発光色を読み取り。目視では識別が難しい色相・彩度・輝度を数値化し、明確な判定基準で検査できます。
DC±20V/±1Aのソースメジャーユニットを2基搭載。従来のインサーキットテスタでは難しかったリレー・レギュレータ・インバータの動作検査や、トランスの巻線比・位相差検査にも対応します。
レーザー変位測定で部品の高さや基板の反りを検知。さらに高解像度CMOSカラーカメラによるAOI画像検査を搭載し、電気検査では捉えにくい部品のズレ・方向違いも検出します。
プローブ先端に付着するフラックス等の異物を自動で除去。接触抵抗のばらつきを抑えて誤判定リスクを低減し、長時間運用時の信頼性を大きく高めます。
基板作成用のCADデータをご提供いただくと、検査の幅と精度がさらに高まります。
ODB++ 等のCADデータから、F-ICT検査データを自動変換。ODB++ は基板の製造に必要な情報を単体で網羅する公開フォーマットで、情報不足や認識違いによる不具合を防ぎます。ODB++ 以外のCADデータも「ALL CADコンバートソフト」で読み込み可能です。
CADデータのネット情報をもとに、最適なコンタクトポイントを自動選定。ICオープンテスト機能と組み合わせることで、BGAやLGAといったリードレス部品のブリッジ・未はんだの検査データ作成も容易になります。
APT-2600FD の詳しい仕様は、製造元であるタカヤ株式会社 産業機器事業部の公式サイトをご覧ください。